冲击试样缺口测量分析仪应用

冲击试验要求冲击试样缺口要求非常严格，缺口的微小变化，都会引起试验结果出现误差，为保证加工出的冲击试样缺口合格，缺口的加工质量检验是一个重要的控制手段。目前zui准确的测量方法用光学测量是*准确测量的方法，并能保证冲击试样 缺口质量的方法。

概述

随着国内工业技术的发展，越来越多的行业已经开始执行夏比V型U型缺口冲击试验方法， 日前国内很多行业如（航空航天、船舶、锅炉压力容器、冶金和机械）等行业已普遍使用夏比冲击试验。根据目前国内广大用户的实际需求和国标GB/T229-2007《金属材料夏比摆锤试验方法》ASTM E23中冲击试样缺口的要求而开发、开发的一种于检查夏比V型U型冲击试样缺口加工质量的光学仪器，是航空航天、船舶、锅炉压力容器、冶金和机械等部门理化实验室的*设备。满足所有种类冲击试样缺口的的检测。

关于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（GB/T229-2007试样缺口深2mm±0.075、45°角±2°且试样缺口要求R0.25±0.025mm）（ASTM E23试样缺口深2mm±0.025、45°角±1°且试样缺口要求R0.25±0.025mm），故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0.25mm缺口的微小变化（其公差带只有0.025mm），都会引起试验结果的偏差，尤其是在试验的临界值时会引起产品报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。用光学测量检查是*切实可行并能保证检查质量的方法。TOP-IG是我公司根据GB/229-2007《金属材料夏比缺口冲击试验方法》、ASTM E23中要求冲击试样缺口的要求与广大用户的实际需求而设计、开发的一种于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的光学测量仪器。

原理

冲击缺口测量分析仪通过光学采集系统将式样缺口全貌显示再电脑显示器上，根据实际需要，调节的机器视觉光源，使图像更加清晰，再通关过的SMTMeasSystem_IG测量系统，可以用于V型U型缺口测量，得出角度、深度以及顶部半径。

产品特点

该仪器是利用光学测量技术将被测的冲击试样V或U型缺口直接显示再显示器上，通过测量系统，测量，确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，操作简便，检查直观、效率高，是*切实可行、并将测量数据以图片、word、excel格式保存起来，以便日后复查。冲击缺口测量分析仪是相关理化试验室的*仪器。

适用行业

冲击缺口测量分析仪适用于广大冶金、航空航天、兵器、船舶、压力容器、和工程机械制及科研等部门理化实验室的*设备。

该仪器还可用于机械零部件的外形轮廓、角度、半径、长度、纺织物纤维、生物切片分析、工量刃具的检验、仪表元件和半导体元件的测量检测。满足标准GB/T 229-2007 ASTM E23-2002a等技术要求。

技术参数

1、 放大倍数：10~300倍；

2、 视场范围：20mm；

3、 工作台尺寸：

方工作台：300×400mm

X y可调载物台：70×60mm

4、 仪器放大倍率：10~300倍

5、测量精度

分辨率：0.001mm

6、 光源（机器视觉装用LED）：5v8W；

7、 电源：220V/10W；

8、 外形尺寸：400×300×600mm（长×宽×高）；

9、重量：约30kg。